（全球TMT2021年3月17日讯）致茂电子深耕半导体测试领域已20年，此次展出的Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC测试系统，为3380系列平台往高端技术的延伸。其数字信道速率(data rate)最高可达1Gbps、最高512个并行测试的能力及512M Word 测试数据存储器深度，均可满足高端芯片的测试需求，并同时达到降低测试成本的目标。致茂半导体测试解决方案支持全球四大导航系统，整合旗下 Adivic MP5806S RF 测试分析仪，内建各种不同的调变与解调协议，更提供定位系统所需的标准测试方法。此外，HDAVO 高性能混合信号方案搭配多种无线射频测试仪，是高端智能音箱与无线耳机测试最具信价比的组合，提供了 32 个射频 (RF) 通道，可以进行大量并行测试，同时兼顾成本、产量与质量。

Chroma 3300 PXIe半导体测试系统是市面上最具弹性，功能最完整的测试机台。它承袭了 Chroma 3380P 系列的设计与技术优势，使用新一代 CRAFT-Plus 软件进一步支持了 Microsoft Visual Studio 2019 的许多优点，使得整合第三方之 PXIe 仪表更加简易。非常适合微控制器、微机电(MEMS)传感器、射频放大器 (RF PA) 与 CMOS 显像传感器(Image Sensor)的测试使用。

Chroma 3200 Versatile Platform 为一款可自由搭配的 SLT Test Cell 测试平台，使用灵活自如的Robot取放测试芯片，同时可选配31K (温控-40~+150°C)，或更高阶的32K(温控-70~+150°C) ATC 温控系统，来满足客户对温控测试的需求。Chroma 的虚拟生产监控工具(CVOT)可远程追踪监控产品测试流程，透过大数据预测机台测试效率，大幅缩短出货时间并提高产品测试良率，也能利用虚拟眼镜的软硬件结合，可远程示范维修操作，解决因疫情期间，技术人员无法到现场维修的状况。