新思科技 宣布成功在三星先进FinFET技术节点上部署新思科技Yield Explorer®良率学习平台，用于加速新产品的量产。使用Yield Explorer中的安全数据交换机制，三星能够与用户共享用于良率分析的数据，如芯片设计、晶圆厂和测试的数据，同时维护各方专有信息的机密性。

新思科技Yield Explorer是一个综合的良率学习平台，产品和良率工程团队使用来自不同来源的数据进行根本原因分析。这些来源包括： 产品设计数据：布局、网表、测试诊断、静态时序分析；晶圆厂数据：检验、计量、晶圆允收测试(WAT)；产品测试数据：Bin、参数化、系统级测试。

Yield Explorer中强大的分析引擎使用先进的机器学习和数据可视化技术，以快速的周转时间交付高质量的结果。（全球TMT www.tmtnews.tech）